UACH > APLIKACE A SLUŽBY > Skenovací elektronový mikroskop JSM-6510

Skenovací elektronový mikroskop JSM-6510


SEM (Skenovací elektronový mikroskop) JSM-6510

Kontaktní osoba: Ivo JakubecJan Šubrt

Skenovací elektronový mikroskop JSM-6510 firmy JEOL umožňuje měření v modu sekundárních i zpětně odražených elektronů. Mikroskop může pracovat jak ve vysokovakuovém tak nízkovakuovém režimu. Nízkovakuový režim umožňuje pozorování nevodivých vzorků bez nutnosti pokovení jejich povrchu. K mikroskopu je připojen EDS detektor SDD x-act 10mm2 INCA od firmy Oxford Instruments, který detekuje prvky od bóru po plutonium.