SEM (Skenovací elektronový mikroskop) Jeol JSM-6510
Kontaktní osoba: Pavlína Fialová, Jan Šubrt
Skenovací elektronový mikroskop JSM-6510 firmy JEOL umožňuje měření v modu sekundárních i zpětně odražených elektronů. Mikroskop může pracovat jak ve vysokovakuovém, tak nízkovakuovém režimu. Nízkovakuový režim umožňuje pozorování nevodivých vzorků bez nutnosti pokovení jejich povrchu. K mikroskopu je připojen EDS detektor SDD x-act 10mm2 INCA od firmy Oxford Instruments, který detekuje prvky od bóru po plutonium.
TEM (Transmisní elektronový mikroskop) Jeol JEM-3010
Kontaktní osoba: Natalija Murafa
Transmisní elektronový mikroskop je jediným laboratorním přístrojem, s jehož pomocí je možné získat zároveň informaci o struktuře, prvkovém složení a morfologii částic z oblasti o velikosti několika nanometrů studovaného vzorku. Transmisní elektronový mikroskop JEM-3010 od firmy JEOL umožňuje studium struktury látek s atomovým rozlišením, a to jak v přímém zobrazení (HRTEM), tak pomocí elektronové difrakce (SAED, CBED, NBED). K mikroskopu je připojen EDX detektor od firmy Oxford Instruments, který umožnuje prvkovou analýzu s nanometrovým rozlišením. Připojený systém DigiStar od firmy NanoMegas poskytuje mapy krystalograficky odlišných fází a orientace krystalů v nanometrovém měřítku.
Quantachrome Instruments NOVA 4200e
Kontaktní osoba: Pavlína Fialová, Eva Pližingrová
Analyzátor měrného povrchu a velikosti pórů NOVA 4200e firmy Quantachrome umožňuje měření 3 vzorků zároveň. Adsorpce plynného dusíku je měřena při teplotě 196 °C. Také je schopen určit externí specifický povrch, celkový objem pórů a průměrný poloměr pórů. Z maximálně 100 bodové adsorpční/desorpční izotermy je možno zjistit BJH distribuci velikosti pórů. Kompatibilní odplyňovač FloVac Degasser se využívá pro předúpravu vzorků, možná je jak evakuace za zvýšené teploty až do 300 °C, tak i proplachování vzorků plynným dusíkem.
Belsorp-max II
Kontaktní osoba: Darina Smržová, Pavlína Fialová
Na přístroji Belsorp je možné zjistit velikost povrchu a porozity jak mezoporézních, tak i mikroporézních materiálů. Pro měření adsorpce plynu je využíván dusík nebo vodní pára.
SETARAM SETSYS EVOLUTION-16-MS
Kontaktní osoba: Anna Vykydalová, Pavla Kurhajcová
Termický analyzátor SETARAM umožňuje měření vzorků v inertní (Ar) i vzdušné atmosféře až do teploty 1300°C. Kromě termogravimetrického signálu je zároveň snímán i DTA záznam. K analýze uvolňovaných plynů se využívá sofistikovaný systém připojení QMS modulu k hmotnostnímu spektrometru. Ten může pracovat v MID (multiple ion detection) režimu nebo ve SCAN modu.
Netzsch STA 449 F1 Jupiter
Kontaktní osoba: Anna Vykydalová, Pavla Kurhajcová
Termický analyzátor Netzsch v propojení s plynovou chromatografií (Agilent Technologies 7890B GC system) a hmotnostní spektrometrií (Agilent technologies 5977B MSD) je sofistikovaný systém schopný simultánního měření TGA/DSC a GC-MS. Měření jsou možné jak v inertní atmosféře (Ar), tak na vzduchu s možností maximální teploty měření až do 1600 °C. Tento systém slouží na zjištění změn v matriálu v době dynamického nebo izotermního režimu a zároveň je schopný analyzovat plyny, které vznikají/uvolňují se z měřeného materiálu při teplotním zatížení. Plyny odcházející v době měření je možné stanovovat pomocí plynové chromatografie nebo přímo pomocí hmotnostní spektrometrie (vhodně zvolené m/z nebo scan).
Nexus 670 FT-IR Thermo Electron Corporation
Kontaktní osoba: Anna Vykydalová, Pavla Kurhajcová
Spektra se měří v infračervené oblasti v rozsahu 4000-400 cm-1 s rozlišením 4 cm-1, pro detekci se používá spektrometr DTGS KBr, beamsplitter KBr. Měření vzorků je možné jak transmisní technikou ve formě tablety (vzorek + KBr), tak na jednorázovém nástavci ATR Smart iTX s diamantovým krystalem nebo ZnSe krystalem.
HRSEM FEI NanoSEM 450
Kontaktní osoba: Jiří Henych, Petra Ecorchard
Tento vysokorozlišovací rastrovací elektronový mikroskop umožňuje snímat velice kvalitní záběry tvarů, morfologie, defektů či aglomerátů částic i v nanometrickém měřítku. Pozorování je umožněni díky Everhart-Thornleyova detektoru nebo za nízkého vakua (10-200 Pa) modem Through-the-Lens. Přístroj umožňuje náklon vzorečku v rozmezí -15 až 75 °. Napětí je volitelné v rozsahu 1-30 kV. Díky Field-Free modu je možné měření a pořízení záznamů i magnetických vzorků. Pro ještě lepší rozlišení je možno měřit v imerzním modu. Kvalitativní i kvantitativní stanovení přítomných prvků zajišťuje přítomným EDS detektor, který zároveň nabízí možnost grafického mapování prvkového zastoupení.
HRTEM FEI Talos F200X
Kontaktní osoba: Jakub Tolasz, Natalija Murafa
Rentgenová prášková difrakce
Kontaktní osoba: Petr Bezdička
V naší laboratoři máme instalovány tři rentgenové práškové difraktometry, dva přístroje X’PertPRO MPD (Multi Purpose Diffractometer) firmy PANalytical a třetí přístroj Empyrean, series 3, firmy Malvern PANalytical.
První z nich je vybaven kobaltovou rentgenkou a rychlým lineárním pozičně citlivým detektorem X’Celerator. Konvenční Bragg-Brentanovo reflexní uspořádání slouží především k analýzám vzorku s vysokým obsahem železa. V případě potřeby je možná instalace in-situ vysokoteplotní komůrky (Anton Paar HTK 16) nebo analýza s kontrolovanou vlhkostí (Anton Paar CHC+ komůrka). Reflexní geometrie může být také zaměněna za mikrodifrakční. Ta umožňuje analýzu malých heterogenních mikrovzorků zcela nedestruktivním způsobem, typicky mikrovzorky odebrané z uměleckých děl. V této geometrii se v primárním svazku používá monokapilára s výstupním průměrem 0,1 mm.
Druhý přístroj je vybaven měděnou rentgenkou a detektorem PIXCel. Ten umožňuje kromě analýz v konvenční reflexní geometrii analyzovat vzorky i v transmisní geometrii. To je zvláště výhodné v případě přesnějšího určování jílových minerálů, kde komplementární analýzy v reflexním a transmisním uspořádání zvyšují přesnost určení těchto minerálů a jejich polytypů.
Třetí přístroj je vybaven kobaltovou rentgenkou, univerzální programovatelnou optikou iCore / dCore a detektorem PIXCel 3D. K přístroji je k dispozici automatický výměník vzorků se 45 pozicemi, umožňující analyzovat velké série různorodých vzorků. Dále je difraktometr vybaven programovatelnou X,Y,Z platformou s plně automatickým zaměřováním analyzovaného bodu. Toto příslušenství lze využít k nedestruktivním analýzám pevných vzorků, například keramiky, konstrukčních materiálů a malých uměleckých děl, typicky portrétních miniatur a archeologických vzorků. Přístroj je dále vybaven monokapilárou s výstupním průměrem 0,1 mm a polykapilárou s výstupním průměrem 0,05 mm pro mikrodifrakční analýzy.
Spolupráce v rámci projektu MŠMT NanoEnviCz:
Kontaktní osoba: Petra Ecorchard
Web stránky:: www.nanoenvicz.cz
NanoEnviCz je výzkumná infrastruktura, která propojila kapacity několika vědeckých organizací ČR v oblasti výzkumu nanomateriálů a nanotechnologií a poskytuje otevřený přístup k využívání svého experimentálního zázemí a k odbornému kvalifikovanému servisu.
Je možno využít celou nabízenou síť šesti institucí (Ústav fyzikální chemie J. Heyrovského AV ČR, v. v. i.; Ústav anorganické chemie AV ČR, v. v. i.; Ústav experimentální medicíny AV ČR, v. v. i.; Univerzita J. E. Purkyně v Ústí nad Labem; Univerzita Palackého v Olomouci; Technická univerzita v Liberci).
V rámci ÚACH je možno využít:
UACH1 – Mikroskopie atomárních sil (AFM/MFM/EFM)
UACH2 – Fotokatalytická degradace v kapalné fázi
UACH4 – HRSEM FEI Nova NanoSEM™450
UACH5 – Analyzátor velikosti povrchu a velikosti póru (BET)
UACH8 – IČ spektrometr s DRIFT na pozorování VOC (těkavých organických látek)
UACH9 – DXR Ramanů mikroskop
UACH10 – TEM JEM-3010 (JEOL)
UACH12 – Iontová leštička GATAN
UACH14 – RTG práškový difraktometr PANalytical X’Pert PRO s Co, Cu rentgenkou
UACH15 – Termická analýza s hmotností spektroskopií
UACH16 – HRTEM FEI Talos F200X
UACH17 – RTG práškový difraktometr PANalytical Empyrean III s Co rentgenkou