UACH > APLIKACE A SLUŽBY > Přístrojová měření

Přístrojová měření

SEM (Skenovací elektronový mikroskop) JSM-6510

Kontaktní osoba: Ivo Jakubec, Jan Šubrt

Skenovací elektronový mikroskop JSM-6510 firmy JEOL umožňuje měření v modu sekundárních i zpětně odražených elektronů. Mikroskop může pracovat jak ve vysokovakuovém tak nízkovakuovém režimu. Nízkovakuový režim umožňuje pozorování nevodivých vzorků bez nutnosti pokovení jejich povrchu. K mikroskopu je připojen EDS detektor SDD x-act 10mm2 INCA od firmy Oxford Instruments, který detekuje prvky od bóru po plutonium.

 

TEM (Transmisní elektronový mikroskop) JEM-3010

Kontaktní osoba: Ivo Jakubec

Transmisní elektronový mikroskop je jediným laboratorním přístrojem, s jehož pomocí je možné získat zároveň informaci o struktuře, prvkovém složení a morfologii částic z oblasti o velikosti několika nanometrů studovaného vzorku.Transmisní elektronový mikroskop JEM-3010 od firmy JEOL umožňuje studium struktury látek s .atomovým rozlišením a to jak v přímém zobrazení (HRTEM), tak pomocí elektronové difrakce (SAED, CBED, NBED). K mikroskopu je připojen EDX detektor od firmy Oxford Instruments, který umožnuje prvkovou analýzu s nanometrovým rozlišením. Připojený systém DigiStar od firmy NanoMegas poskytuje mapy krystalograficky odlišných fází a orientace krystalů v nanometrovém měřítku.

 

Quantachrome Instruments NOVA 4200e

Kontaktní osoba: Eva Pližingrová

Analyzátor měrného povrchu a velikosti pórů NOVA 4200e firmy Quantachrome umožňuje měření 3 vzorků zároveň. Také je schopen určit externí specifický povrch, celkový objem pórů a průměrný poloměr pórů. Z maximálně 100 bodové adsorpční/desorpční izotermy je možno zjistit BJH distribuci velikosti pórů. Kompatibilní odplyňovač FloVac Degasser se využívá pro předúpravu vzorků, možná je jak evakuace za zvýšené teploty až do 300 °C a proplachování vzorků plynným dusíkem.

 

SETARAM SETSYS EVOLUTION-16-MS

Kontaktní osoba: Monika Motlochová, Bára Komárková

Termický analyzátor SETARAM umožňuje měření vzorků v inertní (Ar) i vzdušné atmosféře až do teploty 1300°C. Kromě termogravimetrického signálu je zároveň snímán i DTA záznam. K analýze uvolňovaných plynů se využívá sofistikovaný systém připojení QMS modulu k hmotnostnímu spektrometru. Ten může pracovat v MID (multiple ion detection) režimu nebo ve SCAN modu.

 

HRSEM FEI NanoSEM 450

Kontaktní osoba: Jiří Henych, Petra Ecorchard

Tento vysokorozlišovací rastrovací elektronový mikroskop umožňuje snímat velice kvalitní záběry tvarů, morfologie, defektů či aglomerátů částic i v nanometrickém měřítku. Pozorování je umožněni díky Everhart-Thornleyova detektoru nebo za nízkého vakua (10-200 Pa) modem Through-the-Lens. Přístroj umožňuje náklon vzorečku v rozmezí -15 až 75 °. Napětí je volitelné v rozsahu 1-30 kV. Díky Field-Free modu je možné měření a pořízení záznamů i magnetických vzorků. Pro ještě lepší rozlišení je možno měřit v imerzním modu. Kvalitativní i kvantitativní stanovení přítomných prvků zajišťuje přítomným EDS detektor, který zároveň nabízí možnost grafického mapování prvkového zastoupení.

 

Rentgenová prášková difrakce

Kontaktní osoba: Petr Bezdička

V naší laboratoři máme instalovány dva rentgenové práškové difraktometry PANalytical X’Pert MPD (Multi Purpose Diffractometer). První z nich je vybaven kobaltovou rentgenkou a rychlým lineárním pozičně citlivým detektorem X’Celerator. Konvenční Bragg-Brentanovo reflexní uspořádání slouží především k analýzám vzorku s vysokým obsahem železa. V případě potřeby je možná instalace in-situ vysokoteplotní komůrky (Anton Paar HTK 16) nebo analýza s kontrolovanou vlhkostí (Anton Paar CHC+ komůrka). Reflexní geometrie může být také zaměněna za mikrodifrakční. Ta umožňuje analýzu malých heterogenních mikrovzorků zcela nedestruktivním způsobem, typicky mikrovzorky odebrané z uměleckých děl. V této geometrii se v primárním svazku používá monokapilára s výstupním průměrem 0,1 mm. Druhý přístroj je vybaven měděnou rentgenkou a detektorem PIXCel. Ten umožňuje kromě analýz v konvenční reflexní geometrii analyzovat vzorky i v transmisní geometrii. To je zvláště výhodné v případě přesnějšího určování jílových minerálů, kde komplementární analýzy v reflexním a transmisním uspořádání zvyšují přesnost určení těchto minerálů a jejich polytypů.

 

Spolupráce v rámci projektu MŠMT NanoEnviCz:

Kontaktní osoba: Petra Ecorchard

Web stránky:: www.nanoenvicz.cz

NanoEnviCz je výzkumná infrastruktura, která propojila kapacity několika vědeckých organizací ČR v oblasti výzkumu nanomateriálů a nanotechnologií a poskytuje otevřený přístup k využívání svého experimentálního zázemí a k odbornému kvalifikovanému servisu.
Je možno využít celou nabízenou síť šesti institucí (Ústav fyzikální chemie J. Heyrovského AV ČR, v. v. i.; Ústav anorganické chemie AV ČR, v. v. i.; Ústav experimentální medicíny AV ČR, v. v. i.; Univerzita J. E. Purkyně v Ústí nad Labem; Univerzita Palackého v Olomouci; Technická univerzita v Liberci).

V rámci ÚACH je možno využít:

UACH1 – Mikroskopie atomárních sil (AFM/MFM/EFM)

ACH2 – Fotokatalytická degradace v kapalné fázi

UACH4 – HRSEM FEI Nova NanoSEM™450

UACH5 – Analyzátor velikosti povrchu a velikosti póru (BET)

UACH7 – GC/MS

UACH8 – IČ spektrometr s DRIFT na pozorování VOC (těkavých organických látek)

UACH9 – DXR Ramanů mikroskop

UACH10 – TEM JEM-3010

UACH11 – Ultramikrotom k řezání přesných ultratenkých řezů

UACH12 – Iontová leštička GATAN

UACH13 – Iontová leptačka GATAN

UACH14 – RTG práškový difraktometr PANalytical X’Pert PRO s Co, Cu rentgenkou

UACH15 – Termická analýza s hmotností spektroskopií

UACH16 – High resolution Transmission electron microscope FEI Talos F200X